能源研究技术平台新购置的飞行时间-二次离子质谱仪（TOF SIMS，IONTOF M6）已经完成安装调试和价格公示，定于2月20日起正式面向所内外开放使用。请用户登录科研仪器管理系统（IMS）搜索“飞行时间-二次离子质谱仪”进行在线预约。

　　TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析，并行探测所有元素和化合物，具有极高的传输率(可达到100%)，只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图，从而提供有关样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息，并能提供全面的三维分析。其用途广泛，包括半导体，聚合物，涂料，涂层，玻璃，纸张，金属，陶瓷，催化剂，生物材料，药品和有机组织等领域。

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